Beratung zu Temperaturmessaufgaben, Methodenentwicklung und thermodynamische Berechnungen
Applikationsbetreuung Pyrometrie
Technische Betreuung und Methodenentwicklung für berührungslose Temperaturmessaufgaben
Wissenschaftliche Mitarbeiterin am Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
Forschungstätigkeit am Institut für Ionenstrahlphysik, Abteilung Halbleitermaterialien Promotion zum Thema: "Ultra-Kurzzeitausheilung an Silizium"
Studienzeit in Freiberg und Newcastle-upon-Tyne / UK
Studium der "Angewandten Naturwissenschaft" an der TU Freiberg und "Combined Studies in Science" and der Newcastle University
Auszug
An diesen Publikationen habe ich mitgewirkt
Bücher und Broschüren
Reicheld, D. / Rebohle, L. / Prucnal, S.: Flash Lamp Annealing - From Basics to Applications. Vol. 1. Wiesbaden: Springer (2019)
Reichel, D.: Temperature Measurement during Millisecond Annealing – Ripple Pyrometry for Flash Lamp Annealers. vol. 1. Wiesbaden: Springer MatWerk. (2015)
Peer-Review
Reichel, D.: Development and Validation of an Algorithm for Emissivity-Corrected Pyrometry Independent of Material Properties. Proceedings CERC 2020. vol. 2823. pp. 89-99 (2021)
Prucnal, S. / Glaser, M. / Lugstein, A. / Bertagnolli, E. / Stöger-Pollach, M. / Zhou, S. / Helm, M. / Reichel, D. / Rebohle, L. / Turek, M. / Zuk, J. / Skorupa, W.: III-V Semiconductor Nanocrystal Formation in Silicon Nanowires via Liquid-Phase Epitaxy. Nano Research. vol. 7. pp. 1769-1776 (2014)
Prucnal, S. / Jiao, F. / Reichel, D. / Zhao, K. / Cornelius, S. / Turek, M. / Pyszniak, K. / Drozdziel, A. / Skorupa, W. / Helm, W. / Zhou, S.: Influence of Flash Lamp Annealing on the Optical Properties of CIGS Layer. Acta Physica Polonica A. Proceedings of the 8th International Conference NEET. vol. 125. pp. 1404-1407 (2014)
Reichel, D. / Skorupa, W.: Precise Millisecond Annealing for Advanced Material Processing, Physica Status Solidi C. EMRS Spring Proceedings. vol. 9. pp. 2045-2049 (2012)
Reichel, D. / Skorupa, W. / Lerch, W. / Gelpey, J. C.: Temperature Measurement in Rapid Thermal Processing with Focus on the Application to Flash Lamp Annealing. Critical Reviews In Solid State And Materials Sciences. vol. 36. pp. 102–128 (2011)
Buchkapitel
Reichel, D. / Schumann, T. / Skorupa, W. / Lerch, W. / Gelpey, J. C.: Sources of Uncertainty during Temperature Measurement using Radiation Thermometry. IN: Schmidt, H. / Skorupa, W. Topics in Applied Physics: Subsecond Annealing of Advanced Materials - Annealing by Lasers, Flash Lamps and Swift Heavy Ions. vol. 192. Wiesbaden: Springer Series in Materials Science. pp. 211-228. (2014)
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